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进口德国P+F倍加福采用测量核心技术开关传感器,倍加福核心技术开关传感器简介[产品打印页面]

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产品展商: P+F
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简单介绍

进口德国P+F倍加福采用测量核心技术开关传感器,倍加福核心技术开关传感器简介 采用测量核心技术,150 mm检测范围,红光,IO-Link,2 x推挽输出,2 m固定电缆,具有多种安装选项的微型设计,多像素技术(MPT) - 灵活性和适应性,开关漫反射模式传感器,减少设备种类 - 在一个传感器内的多个开关点,可靠的检测所有表面,不受颜色和结构的影响,对目标颜色敏感度低采用测量核心技术,150毫米检测范围,红色激光,激光等级1,IO-Link,2 x推挽输出,2米固定电缆,具有多种安装选项的微型设计,多像素技术(MPT ) - 灵活性和适应性,减少设备种类 - 一个传感器内的多个开关点, 进口德国P+F倍加福采用测量核心技术开关传感器,倍加福核心技术开关传感器简介

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进口德国P+F倍加福采用测量核心技术开关传感器,倍加福核心技术开关传感器简介
联系人;刘佳

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采用测量核心技术,150 mm检测范围,红光,IO-Link,2 x推挽输出,2 m固定电缆,具有多种安装选项的微型设计,多像素技术(MPT) - 灵活性和适应性,开关漫反射模式传感器,减少设备种类 - 在一个传感器内的多个开关点,可靠的检测所有表面,不受颜色和结构的影响,对目标颜色敏感度低采用测量核心技术,150毫米检测范围,红色激光,激光等级1,IO-Link,2 x推挽输出,2米固定电缆,具有多种安装选项的微型设计,多像素技术(MPT ) - 灵活性和适应性,减少设备种类 - 一个传感器内的多个开关点,DuraBeam激光传感器 - 耐用且可用LED,可靠检测所有表面,与颜色和结构无关采用测量核心技术,150 mm检测范围,红光,IO-Link,2 x推挽输出,2 m固定电缆,具有多种安装选项的微型设计,多像素技术(MPT) - 灵活性和适应性,开关漫反射模式传感器,减少设备种类 - 在一个传感器内的多个开关点,可靠的检测所有表面,不受颜色和结构的影响,对目标颜色敏感度低采用测量核心技术,150毫米检测范围,红色激光,激光等级1,IO-Link,2 x推挽输出,2米固定电缆,具有多种安装选项的微型设计,多像素技术(MPT ) - 灵活性和适应性,减少设备种类 - 一个传感器内的多个开关点,DuraBeam激光传感器 - 耐用且可用LED,可靠检测所有表面,与颜色和结构无关采用测量核心技术,150毫米检测范围,红色激光,激光等级1,IO-Link,2 x推挽输出,M8插头,具有多种安装选项的微型设计,多像素技术(MPT)灵活性和适应性,减少设备种类 - 一个传感器内的多个开关点,DuraBeam激光传感器 - 耐用,可用于LED,可靠检测所有表面,与颜色和结构无关采用测量核心技术,150 mm探测范围,红光,IO-Link,2 x推挽输出,M8插头,具有多种安装选项的微型设计,多像素技术(MPT) - 灵活性和适应性,减少了开关漫反射模式传感器设备种类 - 一个传感器内的多个开关点,可靠检测所有表面,不受颜色和结构影响,对目标颜色敏感度低采用测量核心技术,150 mm探测范围,红光,IO-Link,2 x推挽输出,M8插头,具有多种安装选项的微型设计,多像素技术(MPT) - 灵活性和适应性,减少了开关漫反射模式传感器设备种类 - 一个传感器内的多个开关点,可靠检测所有表面,不受颜色和结构影响,对目标颜色敏感度低
OQT150-R101-2EP-IO-V31-L
三角测量传感器(SbR)

采用测量核心技术,150毫米检测范围,红色激光,激光等级1,IO-Link,2 x推挽输出,M8插头,具有多种安装选项的微型设计,多像素技术(MPT)灵活性和适应性,减少设备种类 - 一个传感器内的多个开关点,DuraBeam激光传感器 - 耐用,可用于LED,可靠检测所有表面,与颜色和结构无关具有测量核心技术的漫反射传感器,大外壳设计,背景抑制和3种更可调的操作模式,IO-Link接口,800 mm可调检测范围,红灯,2个推挽输出,固定电缆,用于标准任务的成本优化系列,传感范围功能,用于服务和过程数据的IO-link接口,PowerBeam发射器LED,可**定义大的调节范围具有测量核心技术,大外壳设计,背景抑制和3种可调节操作模式的扩散传感器,IO-Link接口,800 mm可调检测范围,红光,2个推挽输出,M12插头,用于标准任务的成本优化系列,传感范围功能,用于维修和过程数据的IO-link接口,PowerBeam发射器LED,可**定义大的调节范围

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