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原装SICK纳米级激光距离传感器OC Sharp[产品打印页面]
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产品名称:
原装SICK纳米级激光距离传感器OC Sharp
产品型号:
产品展商:
SICK西克
关注指数:437
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简单介绍
原装SICK纳米级激光距离传感器OC Sharp
电子及太阳能:半导体硅片表面物相监控
电子及太阳能:电路板质量监控,高精度
IC针脚监控,比如硬盘制造,消费电子产
品组装质量监控
原装SICK纳米级激光距离传感器OC Sharp
原装SICK纳米级激光距离传感器OC Sharp
的详细介绍
原装SICK纳米级激光距离传感器OC Sharp
企业QQ:2880626087
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电话:
传真:
邮箱: @163.com
联系人:王倩
特性规格:
产品量程从600微米到12毫米
光谱共焦法原理传感器带来高精度和高可靠性
极高的测量频率,达4,000 Hz
广泛适用于各种材料和颜色被测物的高精度稳定测量
一个测量头即可以**测量极薄透明薄膜的厚度
小4微米的极小光点,可以测量非常小的被测物
5.5纳米的分辨率
一台控制器同时连接一个测量头工作
测距,透明测厚和干涉法测厚三种测量工作模式
免费操作软件,使用方便
应用领域:
高精度识别测量:比如汽车行业发动机和变速箱等核心部件的尺寸测
量,机床行业的高精度加工件测量
薄膜厚度测量:比如吹膜机膜厚监控,流延膜厚监控
精密制造及组装行业:比如轴承钢珠外形监控,细孔深度测量
电子及太阳能:半导体硅片表面物相监控
电子及太阳能:电路板质量监控,高精度IC针脚监控,比如硬盘制造,
消费电子产品组装质量监控
透明玻璃厚度检测:比如显示屏玻璃平面度及厚度测量,镜头或镜片镀
膜厚度检测
优势:
得益于传感器纳米级的高精度和4K的测量频率,可以高速高精度的检
测各种物体
极高的精度和极大的允许倾斜角度,让现场使用非常灵活,节省成本
单头测量透明物体厚度,为高精度透明物体测量提供高***方案
得益于其极小的光斑,该传感器可以用来测量极小的被测物,比如IC针
脚,或者极小的孔深,而这些原来的接触式或者三角测量法传感器都无
法实现,为客户的测量提供新的可能方案。
非接触性式,无需特殊安装设备及免示教的测量技术,为客户节省安装
调试及后期维护时间,节省成本。
随机附带的操作软件,为客户节省时间和成本
型号:
ADAPT-PB-WI-MLG
1027921 ADAPT-PB-GE-MLG
1029196 REF-PLG120
1029197 REF-PLG210
1029198 REF-PLG270
1029199 REF-PLG360
1029200 REF-PLG420
2000733 Lens extender
2006258 BEF-GH-LUT4
2006861 Cable 8m
2007219 Parts 01
2008434 OBL-001
2008435 LLUV-5-500
2008436 LLUV-5-1000
2008437 LLUV-5-1500
2009266 OBJ-213
2009815 LM17-200
2009843 LM12-500
2009844 LM15-500
2010040 LM16-500
2010074 LM17-500
2010101 LM16-200
2010822 LM18-500
2010912 LM12-1000
2010913 LM15-1000
2010914 LM21-500
2010915 LM22-500
2010945 OBJ-210
2010947 Lens No.144
2011149 LM15-1500
2011547 Lens No.209
2011562 LM18-1300
2011597 LM18-1000
原装SICK纳米级激光距离传感器OC Sharp
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